제품소개
Edge/Surface Inspection Equipment
Edge Defects
Classification Contamination / Crack / Chip
Notch Defects
Illumination control (Upper Bevel/Lower Bevel/Apex)
Surface Defects
Pin Hole / PIT / Particle
우리는 그동안 고객이 검출할 수 없었던 작은 Defect 하나까지 검출하여
완벽한 상태의 Wafer를 생산할 수 있도록 다양한 기술 발전의 노력을 한시도 멈추지 않습니다.