製品紹介
Edge/Surface Inspection Equipment
Edge Defects
Classification Contamination / Crack / Chip
Notch Defects
Illumination control (Upper Bevel/Lower Bevel/Apex)
Surface Defects
Pin Hole / PIT / Particle
私たちはこれまでお客様が検出しきれなかった小さいDefectひとつまで検出し
完璧な状態のWaferを生産できるように、多様な技術を発展させられるように、
努力を惜しまずひたすら走り続けています。