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비즈니스 소개 영역

Wafer Inspection Equipment System

ウェハ生産工程で発生しうる様々なウェハ欠陥を検知することができます。
優れた不良検出アルゴリズムを適用し、欠陥の検出可能性を持続的に高めています。

비즈니스 상세내용 영역

1. Air Pocket Inspection

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IIM-3020
IIM-3010
IIM-2010

IIM-3020 | IIM-3010 | IIM-2010

2. Edge/Surface Inspection

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ESIS-3000
EIS-3000

ESIS-3000 | EIS-3000

3. Other

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3-1. Final Sorter

8 Load Port, 7 Load Port-1F, 4/2 Load Port IWS-3000-8L(8つのロードポート), IWS-3000-7L1F(7つのロードポート1つの反転機) フリップロボットを適用しウェハを反転させることができます。 Open Cassette, FOSB, FOUPの全てのタイプに対応しており、使われるキャリアタイプ(Open, FOSB, FOUP)を自動的に区別し、オペレーターによるミスを防止します。

IWS-3000(8Load Port)
IWS-3000(7Load Port 1Flipper)
IMS-3000(4Load Port)
IMS-3000(2Load Port)

IWS-3000(8Load Port) | IWS-3000(7Load Port 1Flipper) | IMS-3000(4Load Port) | IMS-3000(2Load Port)

3-2. Cu-haze, Edge/DSOD, Edge/Cu-haze

CHAC-3000, EDIS-3000, ECIS-3000はSi WaferのEdge欠陥及びSurfaceのHaze Pattern, COP(Crystal Originated Pits), ヘイズパターンを検出する装置です。

CHAC-3000
EDIS-3000
ECIS-3000

CHAC-3000 | EDIS-3000 | ECIS-3000